Ficheiro:Fib tem sample.jpg

De testwiki
Saltar á navegación Saltar á procura
Ficheiro orixinal (1.024 × 800 píxeles; tamaño do ficheiro: 205 kB; tipo MIME: image/jpeg)

Este ficheiro é de Wikimedia Commons e pode utilizarse noutros proxectos. A descrición da páxina de descrición do ficheiro móstrase a continuación.

Resumo

Descrición
English: SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling.
Deutsch: SEM-Bild eines Halbleiters der fuer Aufnahmen im TEM mit einer FIB praepariert wurde.
Data
Orixe English wikipedia
Autoría english User:Cm the p


Licenza

w:gl:Creative Commons
recoñecemento compartir igual 		Este ficheiro está licenciado baixo a licenza Creative Commons recoñecemento compartir igual 3.0 sen adaptar. Sujeito a aviso legal (disclaimer).
Vostede é libre de:
  • compartir – copiar, distribuír e difundir a obra
  • facer obras derivadas – adaptar a obra
Baixo as seguintes condicións:
  • recoñecemento – Debe indicar a debida atribución de autoría, fornecer unha ligazón á licenza e indicar se se realizaron cambios. Pode facer isto de calquera forma razoable, mais non nunha forma que indique que quen posúe a licenza apoia ou subscribe o seu uso da obra.
  • compartir igual – Se altera, transforma ou amplía este contido, debe publicar as súas contribucións baixo a mesma licenza ou outra compatible á orixinal.
A etiqueta desta licenza engadiuse a este ficheiro como parte da actualización da licenza GFDL.
GNU head Autorízase a copia, distribución e/ou modificación deste documento baixo os termos da licenza de documentación libre GNU, versión 1.2 ou calquera outra que posteriormente publique a Free Software Foundation; sen seccións invariables, textos de portada, nin textos de contraportada. Inclúese unha copia da devandita licenza na sección titulada GNU Free Documentation License. Sujeito a aviso legal (disclaimer).

Pés de foto

Engade unha explicación dunha liña do que representa este ficheiro

Elementos retratados neste ficheiro

representa a

Historial do ficheiro

Prema nunha data/hora para ver o ficheiro tal e como estaba nese momento.

Data/HoraMiniaturaDimensiónsUsuarioComentario
actual3 de febreiro de 2007 ás 15:36Miniatura da versión ás 15:36 do 3 de febreiro de 20071.024 × 800 (205 kB)wikimediacommons>EdC{{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea

A seguinte páxina usa este ficheiro:

Obtido de «https://gl.wiki.beta.math.wmflabs.org/wiki/Ficheiro:Fib_tem_sample.jpg»