Ficheiro:AFMsetup.jpg

De testwiki
Saltar á navegación Saltar á procura
AFMsetup.jpg (721 × 569 píxeles; tamaño do ficheiro: 86 kB; tipo MIME: image/jpeg)

Este ficheiro é de Wikimedia Commons e pode utilizarse noutros proxectos. A descrición da páxina de descrición do ficheiro móstrase a continuación.

Resumo

Descrición
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Data 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Orixe

http://kristian.molhave.dk

Autoría yashvant
Licenza
(Reuso deste ficheiro)
CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg é unha versión vectorial deste ficheiro. Debería usarse esa versión no canto desta imaxe rasterizada cando sexa de mellor calidade.

File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg

Para obter máis información acerca de gráficos vectoriais, vaia á páxina sobre a transición a SVG en Commons.
Tamén hai información sobre o soporte de MediaWiki de imaxes SVG.

Noutras linguas
Alemannisch  العربية  беларуская (тарашкевіца)  български  বাংলা  català  нохчийн  čeština  dansk  Deutsch  Ελληνικά  English  British English  Esperanto  español  eesti  euskara  فارسی  suomi  français  Frysk  galego  Alemannisch  עברית  हिन्दी  hrvatski  magyar  հայերեն  Bahasa Indonesia  Ido  italiano  日本語  ქართული  한국어  lietuvių  македонски  മലയാളം  Bahasa Melayu  မြန်မာဘာသာ  norsk bokmål  Plattdüütsch  Nederlands  norsk nynorsk  norsk  occitan  polski  prūsiskan  português  português do Brasil  română  русский  sicilianu  Scots  slovenčina  slovenščina  српски / srpski  svenska  தமிழ்  ไทย  Türkçe  татарча / tatarça  українська  vèneto  Tiếng Việt  中文  中文(中国大陆)  中文(简体)  中文(繁體)  中文(马来西亚)  中文(新加坡)  中文(臺灣)  +/−
Nova imaxe SVG

Licenza

w:gl:Creative Commons
recoñecemento
Este ficheiro está licenciado baixo a licenza Creative Commons recoñecemento 2.5 xenérico.
Vostede é libre de:
  • compartir – copiar, distribuír e difundir a obra
  • facer obras derivadas – adaptar a obra
Baixo as seguintes condicións:
  • recoñecemento – Debe indicar a debida atribución de autoría, fornecer unha ligazón á licenza e indicar se se realizaron cambios. Pode facer isto de calquera forma razoable, mais non nunha forma que indique que quen posúe a licenza apoia ou subscribe o seu uso da obra.

Pés de foto

Engade unha explicación dunha liña do que representa este ficheiro

Elementos retratados neste ficheiro

representa a

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

tamanho dos dados portugués

88.071 Byte

569 píxel

721 píxel

Historial do ficheiro

Prema nunha data/hora para ver o ficheiro tal e como estaba nese momento.

Data/HoraMiniaturaDimensiónsUsuarioComentario
actual21 de novembro de 2006 ás 15:10Miniatura da versión ás 15:10 do 21 de novembro de 2006721 × 569 (86 kB)wikimediacommons>KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

A seguinte páxina usa este ficheiro: