Ficheiro:AFMsetup.jpg

De testwiki
Saltar á navegación Saltar á procura
AFMsetup.jpg (721 × 569 píxeles; tamaño do ficheiro: 86 kB; tipo MIME: image/jpeg)

Este ficheiro é de Wikimedia Commons e pode utilizarse noutros proxectos. A descrición da páxina de descrición do ficheiro móstrase a continuación.

Resumo

Descrición
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Data 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Orixe

http://kristian.molhave.dk

Autoría yashvant
Licenza
(Reuso deste ficheiro)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg é unha versión vectorial deste ficheiro. Debería usarse esa versión no canto desta imaxe rasterizada cando sexa de mellor calidade.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
Para obter máis información acerca de gráficos vectoriais, vaia á páxina sobre a transición a SVG en Commons.
Tamén hai información sobre o soporte de MediaWiki de imaxes SVG.
Noutras linguas
Alemannisch ∙ العربية ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ বাংলা ∙ català ∙ нохчийн ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ Ελληνικά ∙ English ∙ British English ∙ Esperanto ∙ español ∙ eesti ∙ euskara ∙ فارسی ∙ suomi ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ Alemannisch ∙ עברית ∙ हिन्दी ∙ hrvatski ∙ magyar ∙ հայերեն ∙ Bahasa Indonesia ∙ Ido ∙ italiano ∙ 日本語 ∙ ქართული ∙ 한국어 ∙ lietuvių ∙ македонски ∙ മലയാളം ∙ Bahasa Melayu ∙ မြန်မာဘာသာ ∙ norsk bokmål ∙ Plattdüütsch ∙ Nederlands ∙ norsk nynorsk ∙ norsk ∙ occitan ∙ polski ∙ prūsiskan ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ русский ∙ sicilianu ∙ Scots ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ српски / srpski ∙ svenska ∙ தமிழ் ∙ ไทย ∙ Türkçe ∙ татарча / tatarça ∙ українська ∙ vèneto ∙ Tiếng Việt ∙ 中文 ∙ 中文（中国大陆） ∙ 中文（简体） ∙ 中文（繁體） ∙ 中文（马来西亚） ∙ 中文（新加坡） ∙ 中文（臺灣） ∙ +/−
Nova imaxe SVG

Licenza

w:gl:Creative Commons
recoñecemento
Este ficheiro está licenciado baixo a licenza Creative Commons recoñecemento 2.5 xenérico.
Vostede é libre de:
  • compartir – copiar, distribuír e difundir a obra
  • facer obras derivadas – adaptar a obra
Baixo as seguintes condicións:
  • recoñecemento – Debe indicar a debida atribución de autoría, fornecer unha ligazón á licenza e indicar se se realizaron cambios. Pode facer isto de calquera forma razoable, mais non nunha forma que indique que quen posúe a licenza apoia ou subscribe o seu uso da obra.

Pés de foto

Engade unha explicación dunha liña do que representa este ficheiro

Elementos retratados neste ficheiro

representa a

suma de verificación

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

método de determinación: SHA-1

tamanho dos dados portugués

88.071 Byte

altura

569 píxel

ancho

721 píxel

Historial do ficheiro

Prema nunha data/hora para ver o ficheiro tal e como estaba nese momento.

Data/HoraMiniaturaDimensiónsUsuarioComentario
actual21 de novembro de 2006 ás 15:10Miniatura da versión ás 15:10 do 21 de novembro de 2006721 × 569 (86 kB)wikimediacommons>KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

A seguinte páxina usa este ficheiro:

Obtido de «https://gl.wiki.beta.math.wmflabs.org/wiki/Ficheiro:AFMsetup.jpg»